直读光谱仪波长示差 国产直读光谱仪 钢研纳克光谱仪技术股份有限公司

现在有些号称能够用火花直读光谱仪(OES)直接分析灰口铸铁，不知道是否可信。毕竟几十年的(OES)工作经验，告诉我们，灰口铸铁必须白口化（也就是急冷使得片状石墨的灰铁变成游离碳化物，以渗碳体的白口铸铁），才能用光谱仪分析。
        直读光谱仪是用电弧（火花）的高温使样品中各种元素从固态直接气化并被激发而射出各元素的特征波长，经光栅分光后，成为按波长排列的“光谱”，这些元素的特征光谱线通过出射狭缝，射入各自的器，光信号变成电信号，经仪器的控制测量系统将电信号积分并进行模/数转换，然后由计算机处理，并计算出各元素的百分含量。

钢研纳克Spark 8000 全谱火花直读光谱仪采用高分辨率线阵CMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor）作为器，CMOS 仪器集成性高、读取速度更快、功耗低、长期稳定性更高；每个像素自带放大器，可对元素进行强度调整，增加仪器的准确度，降低分析限，实现全谱扫描。采用智能控制光室充气系统，仪器性能更稳定，服务期限更长久。海量的谱线使分析不再受限，曲线分段跳转同一元素不同谱线间实现无缝衔接，拓展分析范围*三元素干扰校正使元素分析更加准确，可以在用户现场任意增加材料基体和分析元素而*增加硬件，维护保养方便。能量、频率连续可调全数字固态光源，适应各种不同材料；网口采集传输，速度快，通用性更强。

硫是有害的杂质，在钢中要严格限制其含量。硫作为常规分析非金属元素，其激发产生的特征波长较长，能量较低，受光路的影响较大，所以它是光谱仪分析元素中较为敏感的元素。在日常分析中，仪器的飘移，如电源异常、设备震动、光电倍增管的老化等所造成的影响对硫来说，激发强度一般都是向低端偏离，容易出现数据的不准确性。

直读光谱仪器的误差来源有哪些？
1)系统误差也叫可测误差，一般包括仪器的本身波动；样品的给定值和实际值存在一定的偏差（标准样品的元素定值方法可能和实际方法不一致，这样结果会有方法上的差异；同一种方法的结果也存在一定的波动）；待测样品和系列标样之间存在成分的差异，可能导致在蒸发、解离过程中的误差，如背景强度的差别和基体蒸发的差异等。
2)偶然误差是一种无规律性的误差，如试样不均匀；时周围的温湿度、电源电压等的变化；样品本身的成分差异等。
3)过失误差是指分析人员工作中的操作失误所得到的结果，可以避免。如制样不，样品前处理不符合要求，控样和待测试样存在制样偏差，选择了错误的分析程序等。
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