光谱仪磨样标准
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产品描述

像素3648 像素尺寸8μm 光栅焦距500mm 刻线2700 条 /mm 谱线范围130-640nm 分辨率优于 0.01nm
随着使用时间的推移,光室、光学器件会发生非常微小的形变,就是这些微小的形变都会引起光路细微的漂移,从而导致仪器测试精度和准确度的改变,而且这个漂移会随着时间的延迟表现的越来越明显,如果要再次提高仪器的性能就需要人为的调整参数来修正这部分漂移,从而改善光谱仪的性能。
光谱仪磨样标准
光电光谱分析存在的误差在所难免,要正确的认识误差,查找误差存在的原因,采取有效的措施消除误差。光谱分析误差除受上面几种因素的影响外,还有以下几种因素的影响:
1.人的因素: 操作者的质量意识、责任意识、操作技术、水平高低、熟练程度等都会影响的效果;
2.设备因素: 比如设备的状态是否优良、是否定期和维护,光源性能稳定性如何,氩气供气系统是否稳定,试样加工设备状况是否正常、是否对加工设备进行定期维护保养等,都会一定程度上影响结果的准确性。
3.样品试样因素:比如待测试样成分是否均匀,是否具有试样的代表性,热处理状态和组织结构状态是否正常,标准试样的成分和控制试样的成分是否均匀,成分含量的标准值是否可靠,组织结构是否统一、磨制样品方法是否规范、效果是否有效等等,都是影响其效果的关键因素。
4.分析方法因素:在分析方法上,分析曲线制作及拟合程度是否达标,标准化过程及效果是否高效,控样选择是否规范,定值是否严格等等,都一定程度上影响着效果。
5.环境因素:比如所在分析室的温度、湿度是否正常,受否受电磁干扰的影响,所处环境是否清洁卫生,是否具备要求的条件稳定的操作环境,只有有了良好的环境,才能为结果的准确性提供**。
光谱仪磨样标准
根据仪器的结构不同,又可分为多道直读光谱仪和全谱直读光谱仪,其中前者多采用光电倍增管作为器,后者多采用阵列器(如CCD).
随着CCD技术的不断发展,直读光谱仪开始朝小型化、全谱型方向发展.小型化仪器功耗小,占用空间小且易于维护;全谱直读光谱仪能够获得全波段范围内的光谱,满足多基体分析要求,谱线选择灵活,可以有效扣除光谱干扰,分析更准确,而多道直读光谱仪只能有限数量的光谱,很难做到这一点.
光谱仪磨样标准
从定量分析的观点来考虑,对光源的要求如下:
1.分析灵敏度高,并能分析痕量、微量元素分析,灵敏度可达ppm或ppb数量级。
2.浓度灵敏度高,即当分析元素含量C有小的变化时,相应的分析线强度2变化要大,即dI/dc要大。
3.在激发过程中,光源应有良好的稳定性和再现性,这是保证分析准确度的基本要求。
4.基体效应小,试料中基体含量变化时,分析元素的结果不受基体变化的影响。*三元素的影响,组织结构的影响,试样形状和质量的影响要小。
5.予燃时间,曝光时间(积分)要短,可提高分析效率和分析速度。
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