光谱仪曲线怎么校准

通常来说，光谱仪有三个重要组成部分：狭缝（Slit）、色散元件（Dispersive element）、器（Detector）。在光谱仪性能评价中，重要的评价指标之一便是色散能力（Dispersive power）。
简单而言，就是色散元件能够把复色光分散到多宽的范围上，光被分散地越宽，光谱仪的分辨率自然越好。
可以看到，焦平面越远，刻线越密，色散能力越强，后者受到光栅制作工艺限制，传统的光谱仪往往在上下功夫，这也是光谱仪做的比较大的原因。
然而，值得注意的是，你把光谱仪的分辨能力提得越高，虽然波长相近的光能够被区分地更好，但其代价就是一定长度的detector上所能展现的光谱范围变小了，所以，当光栅光谱仪发展到一定阶段后，人们发现重要的问题又出现在了器（detector）这一侧。
器
感光元件是直读光谱仪的核心，元器件的好坏关系到精密仪器的精度。直读光谱仪（OES）的核心元件有三种,一种是广泛使用的CCD（电荷耦合）元件；另一种是CMOS（互补金属氧化物半导体）器件,还有一种是PMT光电倍增管。
以上的器件都是光谱仪的核心器件，元件的质量对光谱仪的种类来说很重要。

一个产品在市场上有竞争力，不外乎取决于以下几方面：首先是技术的先进性，技术上有自己*到的地方；其次在于仪器的可靠性、耐用性；*三则为适用性，用户可以方便操作，仪器对操作人员的要求不高。那么，这些方面，钢研纳克1000型光电直读光谱仪做的如何呢?
　　关于技术的先进性，钢研纳克在研制光电直读光谱之前，一直在进行金属原位分析仪器的研制；金属原位分析也是基于火花放电原理，钢研纳克将其中的关键技术移植到了火花直读光谱中

根据仪器的结构不同,又可分为多道直读光谱仪和全谱直读光谱仪,其中前者多采用光电倍增管作为器,后者多采用阵列器(如CCD).
随着CCD技术的不断发展,直读光谱仪开始朝小型化、全谱型方向发展.小型化仪器功耗小,占用空间小且易于维护;全谱直读光谱仪能够获得全波段范围内的光谱,满足多基体分析要求,谱线选择灵活,可以有效扣除光谱干扰,分析更准确,而多道直读光谱仪只能有限数量的光谱,很难做到这一点.

光电光谱分析存在的误差在所难免，要正确的认识误差，查找误差存在的原因，采取有效的措施消除误差。光谱分析误差除受上面几种因素的影响外，还有以下几种因素的影响：
1.人的因素： 操作者的质量意识、责任意识、操作技术、水平高低、熟练程度等都会影响的效果；
2.设备因素： 比如设备的状态是否优良、是否定期和维护，光源性能稳定性如何，氩气供气系统是否稳定，试样加工设备状况是否正常、是否对加工设备进行定期维护保养等，都会一定程度上影响结果的准确性。
3.样品试样因素：比如待测试样成分是否均匀，是否具有试样的代表性，热处理状态和组织结构状态是否正常，标准试样的成分和控制试样的成分是否均匀，成分含量的标准值是否可靠，组织结构是否统一、磨制样品方法是否规范、效果是否有效等等，都是影响其效果的关键因素。
4.分析方法因素：在分析方法上，分析曲线制作及拟合程度是否达标，标准化过程及效果是否高效，控样选择是否规范，定值是否严格等等，都一定程度上影响着效果。
5.环境因素：比如所在分析室的温度、湿度是否正常，受否受电磁干扰的影响，所处环境是否清洁卫生，是否具备要求的条件稳定的操作环境，只有有了良好的环境，才能为结果的准确性提供**。

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