岛津光电直读光谱仪 火花直读光谱仪

干扰效应也称基体效应，又称共存元素、*三元素或伴随物效应，指的是在样品中除了分析物外所有其他成分的影响，在光谱分析中能引起谱线的强度变化，导致分析结果产生一些误差，这种干扰效应是光谱分析中需要高度重视的一个问题。

光电光谱分析选用的分析线，必需符合下列要求。
 直读光谱分析时，一般都采用内标法。因内标法进行分析时常采用多条分析线和一条内标线组成，常用试料中的基体元素为内标元素。组成的线对要求均称，就是当激发光源有波动时，两条线对的谱线强度虽有变化，但强度比或相对强度能保持不变。
如R表示强度比即          R=I1/I0
I1为分析线的强度，Io为内标线强度，表明I1和Io同时变，而R则不受影响。R与含量C之间有线性关系。
 在光电直读光谱分析时，有很多分析通道，要安装许多内标通道有困难，因此采用一个内标线。但有人认为再要提高光电光谱分析的准确度还得采用不同的内标线，这还有待于光电转换元件的小型化来解决。
 光电法时，有时还用内标线来控制曝光量，称为自动曝光，也就是样品在曝光时，分析线和内标分别向各自积分电容充电，当内标线的积分电容器充电达到某一预定的电压时，自动截止曝光。此时分析线的积分电容器充电达到的电压即代表分析线的强度I，并且亦即代表分析线的强度比R(因为R=I1/Io，而此时Io保持常数)这个强度I或强度比R就由测光读数所表示。
 现在一般采用计时曝光法较为普遍。

多品种、小批量特点，如何控制质量？钢研纳克：部件模块化、标准化
　　从新产品的研发开始，设计方案就要经过公司的可靠性会的论证和评审。如，设计上是怎样去避免局部过热、振动等。可靠性会是两年前成立，钢研纳克近推出的CCD6000、全谱ICP-OES、镉大米仪器都是从设计开始就经过该会的评审。而对于750和1000型火花直读光谱则是重新经过评估、并改进。
　　中试阶段则需要对外通过电子部5所的可靠性试验。钢研纳克与电子部5所达成了战略合作协议参照标的方法验证仪器的可靠性和故障情况。如，模拟较端环境条件进行电磁干扰、高低温循环、湿度、振动等试验，进而改进提高产品的可靠性。“由于实行了可靠性试验，电路板等器件经过了改进，仪器的故障率有所下降，”钢研纳克北京仪器分公司总经理袁良经说到，“经过了发现问题、解决问题的中试阶段，之后才有可能投入生产。”
　　由于光电直读光谱仪器多品种、小批量的特点，不适合流水线、大批量生产，钢研纳克采取的措施是部件尽可能模块化、标准化，一些模块可以在750型、1000型上通用。其次，在内部过程工艺上严格要求，下道工序要对上道工序进行检查，通过了才能转到下一道工序。另外，对于光电直读光谱仪器来说，一般出厂前成品检验组测试1-2个月的时间，在这个环节大部分隐患都可能暴露出来，相应的也给了工厂时间和机会去解决问题。

直读光谱仪光电效应
光电效应的发现者是德国物理学家海因里希?赫兹（Heinrich Rudolf Hertz）。1886年12月，他在实验中意外发现：紫外线照射到金属表面时，能使金属发射带电粒子电流，这种奇特的现象后来被称为光电效应。
1902年，德国物理学家菲利普?莱纳德（Philipp Eduard Anton von Lénárd）对产生光电效应过程中各相关物理量间的关系进行研究时发现了一个重要规律：光电效应产生的光电子数目随入射光的强度增加而增加，但光电子的速度，或者说它们的动能只与入射光的频率有关，而与入射光的强度无关。这个实验结果用经典物理学完全无法解释。
1905年3月，犹太裔物理学家阿尔伯特·爱因斯坦（Albert Einstein）受普朗克**假设的启发，想像力地运用相对论和光**理论解释了莱纳德光电效应实验的结果，列出了光电方程式。但因没有直接的实验数据支持，他的这个理论解释那时并没有得到学术界的支持。
美国物理学家罗伯特·密立根（Robert Andrews Millikan）经过10年的实验，1916年以他精湛的实验结果证实了爱因斯坦的理论完全正确（其实他原本的意图是想用实验爱因斯坦的理论解释有误）。
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