光学系统帕邢 - 龙格架发
光栅焦距750mm
刻线2400 条 /mm
谱线范围170-500nm
一级色散率0.55nm/mm
二级色散率0.275nm/mm
分辨率优于 0.01nm
直读光谱仪光电效应
光电效应的发现者是德国物理学家海因里希?赫兹（Heinrich Rudolf Hertz）。1886年12月，他在实验中意外发现：紫外线照射到金属表面时，能使金属发射带电粒子电流，这种奇特的现象后来被称为光电效应。
1902年，德国物理学家菲利普?莱纳德（Philipp Eduard Anton von Lénárd）对产生光电效应过程中各相关物理量间的关系进行研究时发现了一个重要规律：光电效应产生的光电子数目随入射光的强度增加而增加，但光电子的速度，或者说它们的动能只与入射光的频率有关，而与入射光的强度无关。这个实验结果用经典物理学完全无法解释。
1905年3月，犹太裔物理学家阿尔伯特·爱因斯坦（Albert Einstein）受普朗克**假设的启发，想像力地运用相对论和光**理论解释了莱纳德光电效应实验的结果，列出了光电方程式。但因没有直接的实验数据支持，他的这个理论解释那时并没有得到学术界的支持。
美国物理学家罗伯特·密立根（Robert Andrews Millikan）经过10年的实验，1916年以他精湛的实验结果证实了爱因斯坦的理论完全正确（其实他原本的意图是想用实验爱因斯坦的理论解释有误）。
取样方法和对样品的处理是光谱分析中影响分析精度和准确度的重要而关键的因素。炉前分析时要对炉中铸态的钢样采取快速红切的方式进行，如果的样品存在裂纹、杂质和气孔等问题，要重新进行取样。对于低碳钢材料要将其置入流水中进行骤降温处理，确保样品组织结构形成马氏体和奥氏体，从而有效提升碳的分析结果的准确性。但要引起注意的是，对于高碳样品进行切割后，不能采取骤降温的方式进行处理，防止因为骤降温引发裂缝发生。另外，对于铸铁和球墨铸铁的和分析，要确保所的样品进行白口化，并确保取样的温度、脱模时间、冷却速度标准和统一。另外不同材料的分析，要选择适合的研磨工具，通常使用氧化铝砂轮片进行打磨，要注意打磨的颗粒处于中等状态，不能太粗或太细。需要强调的是，试样样品的表面要打磨掉0.5至1.5毫米，除去样品表面的氧化层，防止结果的不准确，氧化层对碳的分析结果的准确性影响更大。
光电光谱分析选用的分析线，必需符合下列要求。
直读光谱分析时，一般都采用内标法。因内标法进行分析时常采用多条分析线和一条内标线组成，常用试料中的基体元素为内标元素。组成的线对要求均称，就是当激发光源有波动时，两条线对的谱线强度虽有变化，但强度比或相对强度能保持不变。
如R表示强度比即 R=I1/I0
I1为分析线的强度，Io为内标线强度，表明I1和Io同时变，而R则不受影响。R与含量C之间有线性关系。
在光电直读光谱分析时，有很多分析通道，要安装许多内标通道有困难，因此采用一个内标线。但有人认为再要提高光电光谱分析的准确度还得采用不同的内标线，这还有待于光电转换元件的小型化来解决。
光电法时，有时还用内标线来控制曝光量，称为自动曝光，也就是样品在曝光时，分析线和内标分别向各自积分电容充电，当内标线的积分电容器充电达到某一预定的电压时，自动截止曝光。此时分析线的积分电容器充电达到的电压即代表分析线的强度I，并且亦即代表分析线的强度比R(因为R=I1/Io，而此时Io保持常数)这个强度I或强度比R就由测光读数所表示。
现在一般采用计时曝光法较为普遍。
在实际工作中，分析试样和标样的冶炼过程和物理状态存在一定的差异，所以导致校准曲线经常出现变化，一般情况下标样大多处于锻造和轧制状态，分析样品大多处于浇铸状态，为有效防止试样的冶金状态变化影响分析的结果，经常使用的控制试样要保证与分析试样的冶金过程和物理状态保持一致，对试样的分析结果进行的控制。
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